設備名稱 |
掃描式探針顯微鏡 (SPM) |
廠牌型號 |
Seiko Instruments Inc. (SII) SPA300HV |
規格 |
掃描速度: 0.05Hz~130Hz 掃描範圍: 1. X-Y:20μm, 解析度:0.2nm 2. Z:2 μm,解析度:0.01nm
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設備特色說明 |
材料表面微結構、磁區分佈等分析: |
負責人員 |
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技術服務類型 |
■ 檢測/量測 □ 加工 |
服務提供方式 |
■ 委託處理 □ 租借場地設備 |
服務說明 |
1.必須向中心購買探針,每支1000元。(針的使用壽命依您的樣品表面情況而定) 2.儀器檢測收費第1小時為1200元/小時,(之後以0.5小時為單位,不足0.5小時者,以0.5小時計)。 |
關鍵字 |
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購買日期 |
2003年8月 |
加工精度及限制說明 |
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收費標準 |
1200 元/小時 |
最低收費價格 |
1200 元 |
1200 元/小時 |