1.多晶薄膜繞射：

 樣品準備：塊材樣品，0.5CM × 0.5CM   若為低略角建議試片大小   1CM x 1CM

(膜厚：20~200nm)

 2.Rocking curve：

樣品準備：磊晶薄膜樣品，大於1cm × 1cm

(需已知欲測之繞射主峰角度 (2 Theta)，磊晶層數，各層大約厚度及成份)

3. 高溫繞射：

試片建議大小為 1.8cm x1.8cm ~ 2.8cm x 2.8cm之間 ，試片厚度不得超過 5mm，

測試材料不得為高分子或易揮發材料，請清楚知道自己的材料熔點為幾度，避免試片揮發或熔解於拍攝平台上。

本儀器最高溫度可達 900℃，最高溫速率 1℃/sec