奈米級三次元量測儀

台灣大學 機械系 精密製造中心

奈米級量測儀可在25 mm × 25 mm × 5 mm的空間範圍內進行三維座標的奈米級測量,其解析度高達1.24 nm。

廠牌型號: 
SIOS NMM-1
量測精度及限制說明: 

1.量測範圍 : 25 × 25 × 5 mm

2.解析度 : 0.1 nm

3.位移感測 : 雷射干涉儀

4.量測探頭 : 雷射聚焦探頭

5.機台尺寸 : 340 × 420 × 420 mm

6.外接式分析系統可使用自訂之量測探針

收費標準: 

以量測總時數計價,每小時2000元,最低量測時數:1小時。

設備照片:
關於服務提供單位
台灣大學 機械系 精密製造中心
台灣大學 機械系 精密製造中心
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聯絡電話:02-23660443
註冊日期:2016-04-02