高解析掃描穿透式電子顯微鏡(HR-STEM)
1. 具有掃描(STEM)及穿透(TEM)功能，可觀察材料、生物、細胞、高分子軟性材料的微細組織，擷取明視野(Bright Field, BF)、暗視野(Dark Field, DF)、高角度環狀暗視野(HAADF)、高解析度影像。
2. 晶體結構及缺陷之觀察分析。
3. 微區繞射分析，鑑定結晶材料微結構。
4. 高解析(HREM)，增強訊號並放大影像分析結晶材料微結構。
5. 可數位存取TEM / STEM影像。
6. 具有冷凍傳輸樣品載台，可有效降低Low Does樣品因電子束照射而產生的破壞，亦可觀測冷凍低溫生物樣品(Cryo-TEM)。
7. 能量散佈能譜儀(EDS)：化學元素全能譜定性(原子序B5~U92)及半定量分析，亦有線掃描(Line scan)、分佈(Mapping)之測試。
廠牌型號：
Jeol JEM-2100
購買日期：
2010年
量測精度及限制說明：
1.加速電壓：80-200 KV
2.放大倍率：X50 ~ X1,500,000
3.解像力： point to point: 0.23 nm，Lattice image：0.14 nm
4.最小Spot size : 1.5nm
5.雙傾斜基座：X軸±35°；Y軸±30°
收費標準：
<學術單位>
3150元/3小時
額外收費：
CCD影像：63 元 /張
光學底片：105元 /張
EDS：1050元/5點
Mapping：1050元/次
<財團法人與廠商>
6300元/3小時
額外收費：
CCD影像：126 元 /張
光學底片：210元 /張
EDS：2100元/5點
Mapping：2100元/次
設備照片：
關於服務提供單位
