FE-SEM 高解析場發射掃描式電子顯微鏡
- 表面結構觀察
(1) SEI (Scanning Electron Image): 金屬、陶瓷、薄膜等材料之顯微鏡影像及破斷面、金相表面觀察。
(2) BEI (Backscattered Electron Image): TOPO (Topography)：凹凸表面形貌觀察。 COMPO (Composition)：成分元素鑑別及分析。 - EDS (Energy Dispersive X-ray Spectrometer)
廠牌型號：
JEOL JSM-6701F
收費標準：
學校單位: 1500元/hr
研究單位: 1500元/hr
營利事業單位: 2200元/hr
設備照片：
關於服務提供單位
