掃描式電子顯微鏡(SEM)
掃描式電子顯微鏡 主要功能: 微結構分析、尺寸量測、影像分析,加速電壓30kV,解 析 度3nm,放大倍數18倍~30萬倍,應用領域金屬、陶瓷、複合、薄膜或奈米材料之微結構分析，適用於電子、光電、半導體等。
廠牌型號：
JEOLJSM-5610LV
量測精度及限制說明：
解析度:18倍~30萬倍
腔體直徑:10cm
觀測物尺度:長度與寬度50mm以內,高度20mm以下
收費標準：
8,00元/小時
設備照片：
關於服務提供單位
